生成时序数据图表¶
对存储在TSDB中的时序数据，可通过指定的规则进行筛选，并且以图表的方式显示，方便快速查看和分析数据。
任务描述¶
本文介绍了配置时序数据筛选条件、生成时序数据图表、快速查看和分析数据的步骤。
开始前准备¶
设备测点已配置存储策略，并且测点数据是数值类型。
设备已上传数据，并且存储在TSDB中。
步骤¶
登录EnOS管理门户，选择 时序数据管理 > 数据洞察，完成数据筛选的条件配置。
在 时间选择 一栏中，选择或指定查询数据的时间范围。各选项代表的具体时间范围如下：
1H：从1小时前至当前时刻
1D：从当日零点至当前时刻
7D：从7日前零点至当前时刻
自定义：按需指定查询数据的时间范围
点击 设备选择 输入框，从下拉菜单中选择一个或多个需查询数据的设备。选中的设备会动态展示在 已选测点 一栏中供测点选择。如需重新选择设备，点击 重置，清空已选设备名单。
在 数据选择 一栏中，选择需要显示的数据类型。选中不同的数据类型后，已选测点一栏会动态展示对应的测点列表。
如选择 ALL，已选测点 一栏会相应地展示已选设备的所有测点。并且在查询数据时，不对测点数据进行聚合处理或变位查询。
如选择 AI 或 PI 类型，则相应地选择处理数据的聚合函数和聚合算法作用的时间间隔。目前支持的聚合函数如下：
count：以每个时间范围内的数据点的数目作为结果
sum：以每个时间范围内的测点数值的总和作为结果
avg：以每个时间范围内的测点数值的平均值作为结果
max：以每个时间范围内的测点数值的最大值作为结果
min：以每个时间范围内的测点数值的最小值作为结果
first：以每个时间范围内的第一个测点数值作为结果
last：以每个时间范围内的最后一个测点数值作为结果
如选择 DI 类型，则相应地选择是否需要变位查询设备状态数据。如开启变位查询，则只展示设备状态变化的数据点。
在 已选测点 一栏中，点击已选择的设备名称，展开测点列表，选择一个或多个需查询数据的测点。查询到的测点数据将会展示在右侧图表中。
结果¶
查询到的测点数据展示在页面右侧的图表中。拖动图表下的时间轴或使用图表右上角的区域缩放工具，查看图表中特定时间段的数据信息，包括数据时间戳、测点名、测点数据、以及数据波动曲线。如下图所示：
备注
对单设备单测点，图表只能展示最多5000条数据。要查询更多数据，可使用相关TSDB数据服务API。
在数据图表下，可查看已选测点的最新数据以及数据最后更新时间。如下图所示：
点击 数据列表，可分页查看查询到的数据信息。如下图所示：
备注
对单设备单测点，数据列表只能展示最多500条数据。要查询更多数据，可使用相关TSDB数据服务API。
后续操作¶
如需查看其它设备或测点的数据，选择相应的设备名称、测点类型和测点名称进行查询。
下载数据¶
完成数据查询后，可点击图标和数据列表旁的 下载 
按钮，下载查询到的数据。下载的数据将以 data_insight+当前日期.csv 文件名保存。