生成时序数据图表¶

对存储在 TSDB 中的时序数据，可通过指定的规则进行筛选，并且以图表的方式显示，方便快速查看和分析数据。

任务描述¶

本文介绍了配置时序数据筛选条件、生成时序数据图表、快速查看和分析数据的步骤。

开始前准备¶

设备测点已配置存储策略，并且测点数据是数值类型。
设备已上传数据，并且存储在 TSDB 中。
根据使用的平台进行登录：
- EnOS Cloud 用户登录 EnOS 管理控制台，选择 时序数据管理 > 时序洞察。支持 标准化数据 和 非标准数据 时序洞察。
- EnOS Edge 用户登录本地运维工具，选择 时序洞察。支持 标准化数据 时序洞察。

开启标准化数据时序洞察¶

在 时间选择 一栏中，选择或指定查询数据的时间范围。各选项代表的具体时间范围如下：
- 1H：从1小时前至当前时刻
- 1D：从当日零点至当前时刻
- 7D（仅 EnOS Cloud 支持）：从7日前零点至当前时刻
- 自定义：按需指定查询数据的时间范围
点击 设备选择 输入框，从下拉菜单中选择一个或多个需查询数据的设备。选中的设备会动态展示在 已选测点 一栏中供测点选择。如需重新选择设备，点击重置，清空已选设备名单。
在 数据选择 一栏中，选择需要显示的数据类型。选中不同的数据类型后，已选测点一栏会动态展示对应的测点列表。
- 如选择 ALL，已选测点 一栏会相应地展示已选设备的所有测点。并且在查询数据时，不对测点数据进行聚合处理或变位查询。
- 如选择 AI 或 PI 类型，则相应地选择处理数据的聚合函数和聚合算法作用的时间间隔。目前支持的聚合函数如下：
  - count：以每个时间范围内的数据点的数目作为结果
  - sum：以每个时间范围内的测点数值的总和作为结果
  - avg：以每个时间范围内的测点数值的平均值作为结果
  - max：以每个时间范围内的测点数值的最大值作为结果
  - min：以每个时间范围内的测点数值的最小值作为结果
  - first：以每个时间范围内的第一个测点数值作为结果
  - last：以每个时间范围内的最后一个测点数值作为结果
- 如选择 DI 类型，则相应地选择是否需要变位查询设备状态数据。如开启变位查询，则只展示设备状态变化的数据点。
在 已选测点 一栏中，点击已选择的设备名称，展开测点列表，选择一个或多个需查询数据的测点。查询到的测点数据将会展示在右侧图表中。

开启非标准化数据时序洞察¶

备注

该功能仅 EnOS Cloud 用户可使用。

在 时间选择 一栏中，选择或指定查询数据的时间范围。各选项代表的具体时间范围如下：
- 1H：从1小时前至当前时刻
- 1D：从当日零点至当前时刻
- 7D（仅 EnOS Cloud 支持）：从7日前零点至当前时刻
- 自定义：按需指定查询数据的时间范围
点击 设备选择 输入框，从下拉菜单中选择一个或多个需查询数据的设备。
在 数据选择 一栏中，勾选 非标准数据。
输入数据标识符，点击搜索。查询到的测点数据将会展示在右侧图表中。